電子元器件復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱|復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱
【規(guī)格/SPEC】 

 
電子元器件復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱|復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：
☆、電子元器件復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱|復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱高精度P.I.D.控溫儀表，誤差為±0.1℃，富士、RKC、霍尼威爾表。
☆、連續(xù)或周期噴霧任選；多重系統(tǒng)保護(hù)，使用安全可靠。

電子元器件復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱|復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)：
☆、電子元器件復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱|復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱整體模壓經(jīng)高溫焊接而成、耐腐蝕、易清潔、無(wú)泄露現(xiàn)象。
塔式噴霧系統(tǒng)，并裝有鹽液過(guò)濾系統(tǒng)，無(wú)結(jié)晶噴嘴，鹽霧分布均勻，沉降量自由調(diào)整。
☆、箱蓋采用透明材料可清楚看到箱內(nèi)測(cè)試物品和噴霧狀況。
☆、箱蓋和箱體之間采用水密封結(jié)構(gòu)，無(wú)鹽霧溢出。
☆、線(xiàn)路控制板及其它元?dú)饧潭ㄔ诒阌跈z查和維護(hù)的位置，采用門(mén)鎖開(kāi)啟式邊蓋門(mén)，不僅美觀，而且方便維護(hù)